[发明专利]一种用于红外发射芯片的测试设备及测试方法有效
| 申请号： | 202110368037.X | 申请日： | 2021-04-06 |
| 公开（公告）号： | CN113064056B | 公开（公告）日： | 2021-12-21 |
| 发明（设计）人： | 陈益群;晁阳;吴骏才 | 申请（专利权）人： | 深圳群芯微电子有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市道勤知酷知识产权代理事务所(普通合伙) 44439 | 代理人： | 何兵;吕诗 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区华强北街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于红外发射芯片的测试设备及测试方法，包括机架、槽轮减速器和测试仪器，机架内壁通过轴承对称转动连接有驱动辊和导向辊，驱动辊和导向辊通过皮带传动连接，所示机架一侧固定有槽轮减速器，且槽轮减速器的输出端与一个驱动辊固定连接，槽轮减速器一侧固定有第一伺服电机，且第一伺服电机的输出端与槽轮减速器的输入端固定连接，皮带表面等距开设有定位槽，定位槽内壁对称开设有通槽，本发明可在流水线上进行连续检测，可大大提高芯片的检测效率，防止有不良品流出，并且在芯片上的引脚在与测试仪器连接时，极大的减少引脚与测试仪器插口的摩擦，提高测试仪器的使用寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 红外 发射 芯片 测试 设备 方法 | ||
【主权项】：
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