[发明专利]一种用于红外发射芯片的测试设备及测试方法

说明书

本发明公开了一种用于红外发射芯片的测试设备及测试方法，包括机架、槽轮减速器和测试仪器，机架内壁通过轴承对称转动连接有驱动辊和导向辊，驱动辊和导向辊通过皮带传动连接，所示机架一侧固定有槽轮减速器，且槽轮减速器的输出端与一个驱动辊固定连接，槽轮减速器一侧固定有第一伺服电机，且第一伺服电机的输出端与槽轮减速器的输入端固定连接，皮带表面等距开设有定位槽，定位槽内壁对称开设有通槽，本发明可在流水线上进行连续检测，可大大提高芯片的检测效率，防止有不良品流出，并且在芯片上的引脚在与测试仪器连接时，极大的减少引脚与测试仪器插口的摩擦，提高测试仪器的使用寿命。

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，具体为一种用于红外发射芯片的测试设备及测试方法。

背景技术

红外器件，工作于0.75～1000微米（μm）波长范围内的器件。包括红外发光器件和红外探测器件两大类。常见的红外发光器件有红外发光二极管和红外激光器，红外发光二极管处于正偏时，由于空穴和电子的复合而产生红外光辐射，各种激光器包括固体激光器、气体激光器、半导体激光器和染料激光器等，都能产生红外光，红外发光二极管和半导体激光器通常都是由Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体材料做成，红外探测器件种类繁多，常见者有光电导检测器、光磁电检测器、光子牵引检测器、PIN光电二极管、肖特基光电二极管、MOS检测器、双极型光晶体管等，红外探测器件所用材料极为广泛，金属、绝缘体和超导体都可用于制作红外探测器，红外集成电路正在积极开发中，红外器件主要用于遥控、遥测和通信领域；

在红外发射器件的工作中，需要用到芯片来控制发射，芯片为集成电路，或称微电路、微芯片、晶片，在电子学中是一种把电路（主要包括半导体设备，也包括被动组件等）小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上；

用于红外发射的芯片在生产时，需要对芯片进行测试，以防止有不良品流出，而现有的芯片大都是通过抽检的方式进行测试，使得不良品测出率较低，而采用全检的方式测试时，测试效率较低；

并且，现有的测试设备在测试时，芯片引脚频繁与测试设备进行拔插，测试设备的插口容易损坏，为此，我们提出一种用于红外发射芯片的测试设备及测试方法。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于红外发射芯片的测试设备及测试方法，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种用于红外发射芯片的测试设备及测试方法，包括机架、槽轮减速器和测试仪器，所述机架内壁通过轴承对称转动连接有驱动辊和导向辊，所述驱动辊和导向辊通过皮带传动连接，所示机架一侧固定有槽轮减速器，且槽轮减速器的输出端与一个驱动辊固定连接，所述槽轮减速器一侧固定有第一伺服电机，且第一伺服电机的输出端与槽轮减速器的输入端固定连接，所述皮带表面等距开设有定位槽，所述定位槽内壁对称开设有通槽，所述定位槽内壁放置有芯片，所述芯片的引脚穿过通槽，所述机架内壁对称固定有升降机构，两个所述升降机构的动端固定有测试仪器，所述测试仪器的插口处安装有夹紧装置，所述机架顶部靠近测试仪器的一端滑动安装有对芯片进行固定的限位机构。

优选的，所述升降机构包括第一固定条、第二固定条、螺纹杆、滑动条和第二伺服电机，所述机架内壁一侧固定有第一固定条，所述机架内壁位于第一固定条下方固定有第二固定条，所述第二固定条中部通过轴承转动连接有螺纹杆，且螺纹杆顶部通过轴承与第一固定条转动连接，所述测试仪器两端对称固定有滑动条，所述滑动条中部开设有螺纹孔，且滑动条通过螺纹孔与螺纹杆螺纹连接，所述第二固定条底部固定有第二伺服电机，且第二伺服电机的输出端与螺纹杆固定连接。