[发明专利]快照式成像光谱仪光斑阵列精确位置校正方法有效

专利信息
申请号: 202110350319.7 申请日: 2021-03-31
公开(公告)号: CN113075135B 公开(公告)日: 2022-07-15
发明(设计)人: 杨晋;王明佳;冯树龙;陈佳奇;孙慈;宋楠;赵梓彤;于昌本;王添一 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01N21/27 分类号: G01N21/27
代理公司: 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218 代理人: 高一明;郭婷
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明公开了快照式成像光谱仪光斑阵列精确位置校正方法,通过选取全靶面中的光斑点阵,然后对矩形子区域划分,通过直方图算法得出每个子区域的阈值,然后根据一个子区域的相邻子区域的初始阈值以及权重系数来表示中心区域的最佳阈值,然后确定子区域亮点位置,最后判断是否为有效点。本方法实现有效点提取、无效点剔除,避免造成无效亮点对光谱定标干扰。
搜索关键词: 快照 成像 光谱仪 光斑 阵列 精确 位置 校正 方法
【主权项】:
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