[发明专利]快照式成像光谱仪光斑阵列精确位置校正方法有效
| 申请号: | 202110350319.7 | 申请日: | 2021-03-31 |
| 公开(公告)号: | CN113075135B | 公开(公告)日: | 2022-07-15 |
| 发明(设计)人: | 杨晋;王明佳;冯树龙;陈佳奇;孙慈;宋楠;赵梓彤;于昌本;王添一 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号: | G01N21/27 | 分类号: | G01N21/27 |
| 代理公司: | 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218 | 代理人: | 高一明;郭婷 |
| 地址: | 130033 吉林省长春*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 快照 成像 光谱仪 光斑 阵列 精确 位置 校正 方法 | ||
1.一种快照式成像光谱仪光斑阵列精确位置校正方法,其特征在于,包括如下步骤:
S1:选取全靶面中m×n个点阵;
S2:将上述靶面划分为m×n个矩形子区域,计算每个矩形子区域之间的横向步长和纵向步长;
S3:根据灰度直方图方法计算出每一个子区域的初始阈值T0(i,j):
其中,A为背景直方图的峰值,B为亮点区域的中心灰度级,C为根据子区域亮度进行调整的自由变量,C∈[20,50];
S4:根据通过每个子区域相邻的子区域的初始阈值以及权重系数来表示中心区域的更新阈值T′(i,j),公式为:
其中,D(i,j)为邻子区域的权重系数,且为如下关系:
S5:将子区域所有像素点灰度值DN与更新后的灰度阈值比较,将灰度值DN>T′(i,j)的像素点提取出,再通过灰度质心算法求得亮点的准确位置;
S6:找到亮点的准确位置后,将所述亮点开一个a×a的开窗,计算窗口区域的平均灰度值Tp,根据下述公式判断该子区域亮点是否有效:
Tp-A>T2 (4)
其中,a为正整数,T2为亮点的灰度阈值,取值范围为[100,200],若公式成立则为该点有效点,将该点进行提取,若公式不成立,则该点为无效点,对该点进行剔除。
2.根据权利要求1所述的快照式成像光谱仪光斑阵列精确位置校正方法,其特征在于,所述点阵由汞灯光斑形成。
3.根据权利要求1所述的快照式成像光谱仪光斑阵列精确位置校正方法,其特征在于,所述点阵的标点坐标规律为:第一排第一列点坐标为(x1,y1),第一排第m列点坐标为(xm,y1),第n排第一列点坐标为(x1,yn)。
4.根据权利要求3所述的快照式成像光谱仪光斑阵列精确位置校正方法,其特征在于,每个子区域的横向之间的步长为每个子区域的竖向之间的步长为
5.根据权利要求4所述的快照式成像光谱仪光斑阵列精确位置校正方法,其特征在于,所述步骤S6中a×a的开窗中,a=3。
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