[发明专利]检测扎针测试探针接触性能的装置、方法及面板有效
| 申请号： | 202110287883.9 | 申请日： | 2021-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN113050013B | 公开（公告）日： | 2023-06-20 |
| 发明（设计）人： | 张小红;石宝宝;吴金力;张铁轶;魏崇喜;陈礼龙;彭涛;龚传瑞;樊刚浩 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;绵阳京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00;G01R27/02 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 胡艳华;曲鹏 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本文公开一种检测扎针测试探针接触性能的装置、方法及面板。所述检测扎针测试探针接触性能的装置，包括：信号线结构和测试结构；所述信号线结构包括一个或多个信号线区，所述测试结构包括一个或多个测试区；任意一个信号线区包括：多条信号线；任意一个测试区包括：多个测试垫和多条测试引线；信号线区与测试区一一对应；对任意一个测试区，测试垫用于接触探针，测试垫的一端与信号线的一端一一对应连接，测试垫的另一端与测试引线的第一端一一对应连接，同一个测试区内的所有测试引线的第二端相互连接。本文提供的检测扎针测试探针接触性能的装置能够供测试系统便捷地检测信号线的扎针测试中是否存在探针与测试垫的接触不良。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 扎针 测试 探针 接触 性能 装置 方法 面板 | ||
【主权项】：
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