[发明专利]检测扎针测试探针接触性能的装置、方法及面板

说明书

本文公开一种检测扎针测试探针接触性能的装置、方法及面板。所述检测扎针测试探针接触性能的装置，包括：信号线结构和测试结构；所述信号线结构包括一个或多个信号线区，所述测试结构包括一个或多个测试区；任意一个信号线区包括：多条信号线；任意一个测试区包括：多个测试垫和多条测试引线；信号线区与测试区一一对应；对任意一个测试区，测试垫用于接触探针，测试垫的一端与信号线的一端一一对应连接，测试垫的另一端与测试引线的第一端一一对应连接，同一个测试区内的所有测试引线的第二端相互连接。本文提供的检测扎针测试探针接触性能的装置能够供测试系统便捷地检测信号线的扎针测试中是否存在探针与测试垫的接触不良。

技术领域

本文涉及但不限于显示技术领域，尤其涉及一种检测扎针测试探针接触性能的装置、方法及面板。

背景技术

Flexible(柔性)AM-OLED(Active-matrix organic light-emitting diode，有源矩阵有机发光二极体)技术由于其可弯折的优点被广泛应用于手机和可穿戴电子设备，搭载On Cell Touch(外嵌式触控)的Flexible AM-OLED更加轻薄，因此受到市场的广泛青睐。

在触控面板上制作信号线的过程中可能出现开路或短路类走线不良，因此触控面板在出厂前需要进行测试，以排查信号线走线不良的制作缺陷。通过在信号线的末端连接测试垫，利用专门的检测设备在测试垫上进行扎针测试，能够检测出信号线是否开路或短路。但是，实际扎针测试过程中，会出现因检测设备的探针与触控面板上的测试垫接触不良而造成对触控面板不良的过检，致使本身走线正常的触控面板因检查出走线开路不良而被误报废，造成触控面板不良率的过检，引起浪费。

发明内容

本公开实施例提供了一种检测信号线扎针测试时探针接触性能的装置、方法及面板。

第一方面，本公开实施例提供了一种检测扎针测试探针接触性能的装置，包括：信号线结构和测试结构；所述信号线结构包括一个或多个信号线区，所述测试结构包括一个或多个测试区；

任意一个信号线区包括：多条信号线；任意一个测试区包括：多个测试垫和多条测试引线；信号线区与测试区一一对应；

对任意一个测试区，测试垫用于接触探针，测试垫的一端与信号线的一端一一对应连接，测试垫的另一端与测试引线的第一端一一对应连接，同一个测试区内的所有测试引线的第二端相互连接。

第二方面，本公开实施例提供了一种检测扎针测试探针接触性能的方法，应用于包括上述检测扎针测试探针接触性能的装置的测试系统，所述方法包括以下步骤：

将待测的信号线区中任意一条待测的信号线作为目标信号线，将所述目标信号线通过测试垫直接连接的测试引线作为目标测试引线，将所述目标测试引线所在的测试区作为目标测试区；将与目标测试区中的测试引线存在连接关系的其他测试区作为关联测试区；

将所述目标信号线连接的测试垫作为第一节点；如果所述目标信号线的第二端开路，则从所述目标测试区中任选一个除所述第一节点外的测试垫作为第二节点；如果所述目标信号线的第二端与同一信号线区内的另外一条信号线连接，则将所述另外一条信号线连接的测试垫作为第二节点；

如果所述目标信号线存在关联测试区，则将目标测试区和关联测试区中除所述目标测试引线外的所有测试引线的第一端短接在一起；如果所述目标信号线不存在关联测试区，则将目标测试区中除所述目标测试引线外的所有测试引线的第一端短接在一起；

利用第一探针在第一节点扎针并输入电信号，利用第二探针在第二节点扎针并输出电信号，测量第一节点和第二节点之间的等效电阻，将所述等效电阻的电阻测量值与电阻阈值进行比较，根据比较结果确定是否存在扎针接触不良。

第三方面，本公开实施例提供了一种面板，包括上述检测扎针测试探针接触性能的装置。