[发明专利]一种模拟电路单粒子瞬态效应的测试表征方法在审
| 申请号: | 202110273437.2 | 申请日: | 2021-03-09 |
| 公开(公告)号: | CN113156302A | 公开(公告)日: | 2021-07-23 |
| 发明(设计)人: | 于新;陆妩;王信;李小龙;刘墨寒;孙静;李豫东;郭旗 | 申请(专利权)人: | 中国科学院新疆理化技术研究所 |
| 主分类号: | G01R31/316 | 分类号: | G01R31/316 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 830011 新疆维吾尔*** | 国省代码: | 新疆;65 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明公开了一种模拟电路单粒子瞬态效应的测试表征方法,采用SET幅值‑宽度、幅值概率密度及分布、含有触发阈值参数的SET截面三种方法,建立了完整的模拟电路SET表征方法,采用该方法不仅能够描述模拟电路SET的全部特性,而且解决了模拟电路SET阈值不统一的特殊问题。具有SET特性完整、通用性强、可统计量化的特点。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 模拟 电路 粒子 瞬态 效应 测试 表征 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院新疆理化技术研究所,未经中国科学院新疆理化技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110273437.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。





