[发明专利]一种模拟电路单粒子瞬态效应的测试表征方法

权利要求书

1.一种模拟电路单粒子瞬态效应的测试表征方法，其特征在于，包括以下步骤；

a、基于数字示波器、单粒子测试板、直流电源、程控计算机建立测试系统；

b、在激光或重离子条件下采用步骤a建立的测试系统进行摸底试验，即俘获SET波形，待测电路SET的幅值和宽度；

c、将单粒子测试电路置于重离子试验装置下，根据步骤b俘获SET幅值和宽度的典型值设置示波器的量程、触发阈值、采样数量；

d、设置好示波器的量程、时间参数、每个SET波形的采样点数、触发模式等测试参数后开始进行重离子辐照，SET采样数量满足设定采样数量时停止；

e、在横坐标为SET持续时间、纵坐标为SET幅值的条件下，获得SET的幅值-宽度分布；

f、确定SET幅值步进，进一步获得SET幅值的概率密度、概率分布；

g、基于采集的SET数量、重离子注量、SET幅值概率密度，计算含有触发阈值参数的SET截面-LET关系。

2.根据权利要求1所述的一种模拟电路单粒子瞬态效应的测试表征方法，其特征在于，所述步骤a具体为：将待测器件焊接在辐照板上，辐照板外接直流电源为器件提供偏置，器件输出端通过SMA接头与示波器连接，计算机通过USB电缆与示波器连接，实现对示波器的控制，所述示波器带宽Bandwidth应满足

Width_MIN为SET最小宽度。

3.根据权利要求1所述的一种模拟电路单粒子瞬态效应的测试表征方法，其特征在于，所述步骤c中SET采样数量n应满足SET截面的不确定度U_{CROSS-SECTION}的要求

U_{CROSS-SECTION}＝n^-0.5 (2)。

4.根据权利要求1所述的一种模拟电路单粒子瞬态效应的测试表征方法，其特征在于，所述步骤f为将SET最大幅值分成m个等距区间，其中第i个区间的概率密度值为

其中n_i为SET出现在第i区间的次数，n_tot为SET出现的总数，第i个区间的概率分布值为

。

5.根据权利要求1所述的一种模拟电路单粒子瞬态效应的测试表征方法，其特征在于，所述步骤g的LET下SET截面计算方法为：

n_VTH为满足触发阈值条件下的单粒子事件发生次数，Φ为粒子注量。