[发明专利]一种三维存储器的形成方法及三维存储器在审

专利信息
申请号: 202110263417.7 申请日: 2021-03-11
公开(公告)号: CN112864317A 公开(公告)日: 2021-05-28
发明(设计)人: 杨红心;刘峻 申请(专利权)人: 长江先进存储产业创新中心有限责任公司
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00;H01L27/24;G11C13/00
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 高天华;张颖玲
地址: 430014 湖北省武汉市东湖新技术开发区*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本申请实施例提供一种三维存储器的形成方法及三维存储器,其中,所述方法包括:形成位于衬底之上的介质层,其中,所述介质层内部形成有至少一个第一刻蚀孔,所述第一刻蚀孔的延伸方向平行于所述衬底所在的平面;在所述介质层表面形成存储器阵列;在所述存储器阵列的外围,形成至少一个第二刻蚀孔,所述第二刻蚀孔的延伸方向垂直于所述第一刻蚀孔的延伸方向;在每一所述第一刻蚀孔和每一所述第二刻蚀孔中分别填充散热剂,对应形成第一散热管道和第二散热管道,以形成所述三维存储器。
搜索关键词: 一种 三维 存储器 形成 方法
【主权项】:
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