[发明专利]一种中高压屏蔽栅场效应晶体管的制备方法有效

专利信息
申请号: 202110255880.7 申请日: 2021-03-09
公开(公告)号: CN112864236B 公开(公告)日: 2023-08-11
发明(设计)人: 蔡斌君 申请(专利权)人: 上海恒灼科技有限公司
主分类号: H01L29/423 分类号: H01L29/423;H01L29/78;H01L21/336
代理公司: 上海邦德专利代理事务所(普通合伙) 31312 代理人: 袁步兰
地址: 201306 上海市浦东新区中国(上*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提出一种中高压屏蔽栅场效应晶体管的制备方法,本发明采用先进的多晶化学机械研磨(CMP)工艺,利用CMP对SiO2和silicon的选择比,停在SiO2界面。本发明的方法比传统制备方法的光刻次数更少,达到同样多晶管产品需要的效果。整个工艺流程包括Deep trench,Gate trench,Npluse,Cont,Metal,Passivation共6次光刻,比常规流程减少一个光刻层,减少工艺成本。
搜索关键词: 一种 高压 屏蔽 场效应 晶体管 制备 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海恒灼科技有限公司,未经上海恒灼科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110255880.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top