[发明专利]一种阵列式磁通门表面电势分布及衰减的测量装置及方法有效
| 申请号： | 202110212399.X | 申请日： | 2021-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN113009242B | 公开（公告）日： | 2022-10-04 |
| 发明（设计）人： | 张嘉伟;刘朝辉;王力;汝艳 | 申请（专利权）人： | 西安理工大学 |
| 主分类号： | G01R29/12 | 分类号： | G01R29/12;G01R1/18 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人： | 杨洲 |
| 地址： | 710048*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种阵列式磁通门表面电势分布及衰减的测量装置包括磁屏蔽桶，放置在磁屏蔽桶内且与磁屏蔽桶相连接的磁屏蔽结构，磁屏蔽桶的两端设有桶盖，桶盖上设有换气孔和出线孔，磁屏蔽结构包括三轴阵列式磁通门、铜板、接地线，铜板放置在磁屏蔽桶内，铜板上放置测试样品，测试样品上放置三轴阵列式磁通门。一种阵列式磁通门表面电势分布及衰减的测量方法，包括：打开桶盖，将经过表面放电处理的测试样品放置于铜板之上，然后将三轴阵列式磁通门放置于测试样品之上，关闭桶盖进行测试样品表面的电势分布的测量；最后测量结果可通过数据传输线传输到电脑上进行后续分析。本发明具有测量精度高、结构简单、抗干扰能力强、操作简单等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 阵列 式磁通门 表面 电势 分布 衰减 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安理工大学，未经西安理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110212399.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
