[发明专利]一种阵列式磁通门表面电势分布及衰减的测量装置及方法

权利要求书

1.一种阵列式磁通门表面电势分布及衰减的测量装置，其特征在于，包括磁屏蔽桶(1)，与磁屏蔽桶(1)相连接的磁屏蔽结构(2)，磁屏蔽桶(1)的两端设有桶盖(4)，桶盖(4)上分别设有换气孔(3)和出线孔(5)，所述磁屏蔽结构(2)包括三轴阵列式磁通门(6)、铜板(8)、接地线(10)，所述铜板(8)放置在磁屏蔽桶(1)内，所述接地线(10)的一端与铜板(8)相连，另一端穿过出线孔(5)，所述铜板(8)上放置测试样品(7)，测试样品(7)上放置三轴阵列式磁通门(6)。

2.根据权利要求1所述的一种阵列式磁通门的表面电势分布及衰减的测量装置，其特征在于，所述三轴阵列式磁通门(6)由三轴磁通门探头(11)构成，所述三轴磁通门探头(11)安装固定于PCB板(12)，数据传输线(9)经PCB板(12)一端的多芯接插件引出穿过出线孔(5)与外部电脑连接，PCB板(12)四周留有安装孔，用于三轴阵列式磁通门(6)的固定安装。

3.根据权利要求2所述的一种阵列式磁通门的表面电势分布及衰减的测量装置，其特征在于，所述三轴阵列式磁通门(6)由三行三列共计9个三轴磁通门探头(11)构成。

4.一种阵列式磁通门表面电势分布及衰减的测量方法,其使用权利要求1-3中任一项所述的一种阵列式磁通门表面电势分布及衰减的测量装置，所述测量方法，其特征在于，具体包括以下步骤：

步骤1：打开桶盖(4)，将经过表面放电处理的测试样品(7)放置于铜板(8)之上，且测试样品(7)表面充电的一侧朝下放置；

步骤2：将三轴阵列式磁通门(6)放置于测试样品(7)之上，然后关闭磁屏蔽桶(1)两端的桶盖(4)进行测试样品(7)表面的电势分布的测量；

步骤3：测量结果可通过数据传输线(9)传输到电脑上进行后续分析。