[发明专利]一种化学机械抛光控制方法及控制系统有效

专利信息
申请号: 202110153781.8 申请日: 2021-02-04
公开(公告)号: CN112936085B 公开(公告)日: 2022-09-16
发明(设计)人: 赵德文;倪孟骐 申请(专利权)人: 华海清科股份有限公司
主分类号: B24B37/04 分类号: B24B37/04;B24B37/10;B24B37/005;B24B41/00;B24B49/10;B24B49/12
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 300350 天津市津*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种化学机械抛光控制方法及控制系统,所述化学机械抛光控制方法包括:使用具有多个压力腔室的承载头抛光晶圆,所述压力腔室将晶圆表面对应划分为多个分区,控制所述压力腔室的抛光参数以调节晶圆各个分区的形貌;所述分区设定有多个采集点,加权处理所述分区中采集点的测量值,根据加权处理的测量值计算晶圆的实测形貌;比对晶圆的实测形貌与目标形貌的差异,优化所述压力腔室对应的抛光参数。
搜索关键词: 一种 化学 机械抛光 控制 方法 控制系统
【主权项】:
暂无信息
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