[发明专利]半导体封装件在审

专利信息
申请号: 202110145563.X 申请日: 2021-02-02
公开(公告)号: CN113451281A 公开(公告)日: 2021-09-28
发明(设计)人: 崔智旻;韩正勋;李瑌真;李钟旼;张志熏 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L25/07 分类号: H01L25/07;H01L23/48;H01L23/498;H05K1/18
代理公司: 北京市立方律师事务所 11330 代理人: 李娜;王占杰
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 半导体封装件可以包括:半导体芯片,位于基板上;和底部填充层,位于半导体芯片与基板之间。所述半导体芯片可以包括:半导体基板,包括第一区域和第二区域;以及层间介电层,可以覆盖半导体基板并且可以在其中包括连接线。第一导电焊盘可以位于第一区域上,并且可以电连接到所述连接线中的一些连接线。第二导电焊盘可以位于第二区域上,并且可以与所有连接线电隔离。所述半导体芯片还可以包括钝化层,钝化层可以覆盖层间介电层并且可以包括可以分别暴露第一导电焊盘和第二导电焊盘的第一孔。在第二区域上,底部填充层可以包括可以位于第一孔中的一个第一孔中并且与第二导电焊盘中的一个第二导电焊盘接触的部分。
搜索关键词: 半导体 封装
【主权项】:
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