[发明专利]一种闪存芯片的测试方法在审
| 申请号： | 202110105369.9 | 申请日： | 2021-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN112863587A | 公开（公告）日： | 2021-05-28 |
| 发明（设计）人： | 王玉伟 | 申请（专利权）人： | 深圳市卓然电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;G11C29/44;G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京隆源天恒知识产权代理事务所(普通合伙) 11473 | 代理人： | 吴航 |
| 地址： | 518100 广东省深圳市龙岗*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种闪存芯片的测试方法，其特征在于，该测试方法采用芯片闪存测试装置进行测试，将测试电脑与芯片闪存测试装置连接，将测试装置的探针(24)扎待测试芯片的焊点，将检测结果返回测试电脑，利用测试软件进行结果辨认。采用本专利的芯片闪存测试装置进行闪存芯片的测试，减少了对人力需求的高度依赖，只一名操作员就能操作更多台测试机，解决了传统操作对操作员人数的高度依赖，极大的提高了设备利用率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 闪存 芯片 测试 方法 | ||
【主权项】：
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