[发明专利]一种用于Memory VRTT动态响应测试的上位机系统及其工作方法有效
申请号: | 202110087087.0 | 申请日: | 2021-01-22 |
公开(公告)号: | CN112904254B | 公开(公告)日: | 2022-05-10 |
发明(设计)人: | 朱致远;潘喜光 | 申请(专利权)人: | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 济南诚智商标专利事务所有限公司 37105 | 代理人: | 李修杰 |
地址: | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本申请公开了一种用于Memory VRTT动态响应测试的上位机系统及其工作方法,该上位机系统包括:上位机、待测板卡、逻辑开关接线模块、数字万用表、示波器、VRTT Tool和数据处理模块。待测板卡、逻辑开关接线模块、数字万用表和示波器构成自校正实现区,待测板卡、示波器和VRTT Tool构成数据采集区,数据处理模块构成数据处理区。该方法包括:搭建测试环境;按照Memory VRTT标准进行上电;进行探棒自校正和探棒精度自校正;启动初始测试;判断初始测试结果是否符合SPEC标准;如果是,利用数据处理模块生成测试报告;否则进行调试;调试完毕重新进行探棒自校正和探棒精度自校正,直到获取测试报告;按照Memory VRTT标准下电。通过本申请,能有效提高测试效率和测试结果的准确性。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 memory vrtt 动态 响应 测试 上位 系统 及其 工作 方法 | ||
【主权项】:
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