[发明专利]测试信号并行加载转换电路和系统级芯片有效
| 申请号： | 202110072490.6 | 申请日： | 2021-01-20 |
| 公开（公告）号： | CN112394281B | 公开（公告）日： | 2021-04-23 |
| 发明（设计）人： | 马海英 | 申请（专利权）人： | 北京燧原智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 100191 北京市海淀区知春路23*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试信号并行加载转换电路和系统级芯片。测试信号并行加载转换电路，包括：相连的片外测试信号接收模块和片内并行加载模块；片外测试信号接收模块，用于按照片外时钟速率从多个扫描测试管脚处接收并行测试信号，并按照片内时钟速率将并行测试信号传输至片内并行加载模块；片内并行加载模块，用于对接收的所述并行测试信号进行信号重组，并将重组信号编码成符合NOC标准协议的标准测试信号流，以对片上至少一个目标IP核进行功能性测试。本发明实施例的技术方案可以有效的防止早期测试阶段对制造缺陷的漏检情况的发生，也可以大大的降低产品的测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 信号 并行 加载 转换 电路 系统 芯片 | ||
【主权项】：
暂无信息
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