[发明专利]一种用于光学元器件检测的高精度测厚仪有效
| 申请号： | 202110054099.3 | 申请日： | 2021-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN112880575B | 公开（公告）日： | 2022-12-27 |
| 发明（设计）人： | 董新平;晋景涛;葛新锋 | 申请（专利权）人： | 许昌学院 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06;G01B5/00 |
| 代理公司： | 苏州拓云知识产权代理事务所(普通合伙) 32344 | 代理人： | 王超 |
| 地址： | 461000 河*** | 国省代码： | 河南;41 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种用于光学元器件检测的高精度测厚仪，其包括机台、居中固定组件以及位移测定组件，其中，所述居中固定组件固定安装在机台上端面的右侧，用于对待检测光学元器件进行居中夹持固定，所述位移测定组件设置在居中固定组件的正上方，以便对待测量光学元器件进行厚度检测，所述机台上还设置有辅助照明灯，所述位移测定组件滑动设置在气动滑轨上，以实现位移测定组件的上下精确位移；所述位移测定组件与居中固定组件的竖直方向上的中心轴线相互共线，以便实现对待检测光学元器件的中心厚度进行精确的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 光学 元器件 检测 高精度 测厚仪 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于许昌学院，未经许昌学院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110054099.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
