[发明专利]一种用于光学元器件检测的高精度测厚仪

说明书

本发明公开一种用于光学元器件检测的高精度测厚仪，其包括机台、居中固定组件以及位移测定组件，其中，所述居中固定组件固定安装在机台上端面的右侧，用于对待检测光学元器件进行居中夹持固定，所述位移测定组件设置在居中固定组件的正上方，以便对待测量光学元器件进行厚度检测，所述机台上还设置有辅助照明灯，所述位移测定组件滑动设置在气动滑轨上，以实现位移测定组件的上下精确位移；所述位移测定组件与居中固定组件的竖直方向上的中心轴线相互共线，以便实现对待检测光学元器件的中心厚度进行精确的测量。

技术领域

本发明属于测厚装置技术领域，具体是一种用于光学元器件检测的高精度测厚仪。

背景技术

光学元器件又称光学元件，是光学系统的基本组成单位，其包括透镜、棱镜、反射镜等，其中，最常用的即为透镜；透镜中心厚度作为决定透镜光学性能的重要参数，对其进行检测应保证达到足够的精度；然而据调查发现，目前现有的光学透镜测厚仪往往存在以下问题：

1.夹持组件的结构和方式单一，仅能对凹透镜或凸透镜中的一种进行夹持固定，局限性较大，无法满足对多种透镜厚度进行检测的需求；

2.采用千分尺或千分表的测量方式对透镜的中心厚度进行人工读数测量，无法保证测量精度；

3.接触式测量装置中通过移动触点确定透镜的中心点，使得测量触头与透镜之间反复摩擦，可能会导致透镜表面被刮花，甚至无法使用。

因此，本领域技术人员提供了一种用于光学元器件检测的高精度测厚仪，以解决上述背景技术中提出的问题。

发明内容

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种用于光学元器件检测的高精度测厚仪，其包括机台、居中固定组件以及位移测定组件，其中，所述居中固定组件固定安装在机台上端面的右侧，用于对待检测光学元器件进行居中夹持固定，所述位移测定组件设置在居中固定组件的正上方，以便对待测量光学元器件进行厚度检测，所述机台上还设置有辅助照明灯，所述位移测定组件滑动设置在气动滑轨上，以实现位移测定组件的上下精确位移；

所述位移测定组件与居中固定组件的竖直方向上的中心轴线相互共线，以便实现对待检测光学元器件的中心厚度进行精确的测量。

进一步，作为优选，所述位移测定组件包括顶板、调节杆、限位板以及承接座，所述顶板的下端面上对称安装有两个调节杆，两个所述调节杆的伸缩端固定在承接座的上端面；

所述承接座的横截面为T形结构，且，所述承接座竖直部分外部滑动套设有限位板，所述限位板的最大直径大于支撑壳体顶端开口的直径；

所述调节杆的伸缩轴外部套设有弹簧一；

所述承接座的下端设置有顶部压感触头，且，所述顶部压感触头为弧面锥形结构。

进一步，作为优选，所述顶板的下端面内圆周上均匀嵌入有多个激光接收器。

进一步，作为优选，所述承接座的上端面内圆周上均匀嵌入有若干激光发射器，且，若干所述激光发射器的位置与数量均与顶板内的多个激光接收器相匹配，以便测得承接座各方位的位移变化量。

进一步，作为优选，所述居中固定组件包括支撑壳体、夹紧组件以及调节装置，所支撑壳体的内壁上圆周滑动设置有多个调节装置，且，每个所述调节装置远离支撑壳体内壁的一端固定安装有夹紧组件；

每个所述调节装置的下端均通过电动伸缩杆一与支撑壳体的底壁固定连接。

进一步，作为优选，所述支撑壳体的底壁中部固定安装有底部压感触头，且，所述底部压感触头与顶部压感触头在竖直方向上的中心轴线相共线；

在未放入待测量透镜的情况下，所述位移测定组件下移至最大位移处时，顶部压感触头的底端恰好与底部压感触头的顶端相接触。