[发明专利]测试电路、测试方法和包括测试电路的计算系统在审
| 申请号： | 202110048109.2 | 申请日： | 2021-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN114764118A | 公开（公告）日： | 2022-07-19 |
| 发明（设计）人： | 陈默;范志军;刘建波;许超 | 申请（专利权）人： | 深圳比特微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317;G01R31/3183;G01R31/3185 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 刘倜 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市高*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本公开涉及测试电路、测试方法和包括测试电路的计算系统。一种测试电路包括：测试序列提供模块，用于提供测试序列到待测试的时序器件；时钟驱动模块，用于提供时钟信号到所述待测试的时序器件，其包括第一时钟驱动电路，所述第一时钟驱动电路包括：多个第一时钟路径，分别提供对应的时钟信号；以及逻辑单元，基于所述多个第一时钟路径提供的时钟信号中的至少一部分，产生脉宽调节的第一时钟信号以用于所述待测试的时序器件；以及验证模块，用于对所述待测试的时序器件的输出进行验证。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电路 方法 包括 计算 系统 | ||
【主权项】：
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