[发明专利]无损检测及制造计量系统和方法在审
| 申请号： | 202080037979.3 | 申请日： | 2020-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN114127539A | 公开（公告）日： | 2022-03-01 |
| 发明（设计）人： | M·梅亨代尔;M·阿尔维斯;R·梅尔 | 申请（专利权）人： | 昂图创新有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/17 | 分类号： | G01N21/17;G01N21/21;G01N21/55 |
| 代理公司： | 北京市汉坤律师事务所 11602 | 代理人： | 魏小薇;吴丽丽 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 通过无损系统和方法测量或检测样本。多个光脉冲从光源发射。这些光脉冲被分离成泵浦脉冲和探测脉冲。第一探测脉冲在第一泵浦脉冲到达样本的表面之后的第一持续时间之后到达该表面。第二泵浦脉冲在该第一探测脉冲之后的持续时间之后到达该表面。当该第二泵浦脉冲反射出该样本时，该第二泵浦脉冲可被由该第一探测脉冲生成的声波改变。可分析所反射的第二泵浦脉冲以确定该样本的特性。 | ||
| 搜索关键词： | 无损 检测 制造 计量 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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