[发明专利]用于粒子测试的装置和方法在审

专利信息
申请号: 202080020942.X 申请日: 2020-03-09
公开(公告)号: CN113711008A 公开(公告)日: 2021-11-26
发明(设计)人: 菲利普·罗素;理查德·泽尔特纳;谢尚然;阿比纳夫·夏尔马 申请(专利权)人: 马克思-普朗克科学促进协会
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02;G01N15/14;G01N15/00
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 代理人: 徐民;孙磊
地址: 德国慕尼*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种粒子测试装置(100),所述粒子测试装置被配置用于研究流体介质中的粒子,所述粒子测试装置包括:波导器件(10),所述波导器件包括中空光学波导(11),所述中空光学波导具有输入端(12)和输出端(13);辐照器件(20),所述辐照器件包括激光源(21),所述激光源被布置用于在所述光学波导(11)的所述输入端(12)处光学地捕获至少一个粒子,并将所述粒子穿过所述光学波导(11)朝向其输出端(13)推进;以及测量器件(30),所述测量器件被布置用于感测所述光学波导(11)中的所述至少一个粒子,其中所述测量器件(30)被布置用于测量所述光学波导(11)的光学传输。此外,描述了一种粒子测试装置。
搜索关键词: 用于 粒子 测试 装置 方法
【主权项】:
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