[发明专利]用于粒子测试的装置和方法在审
| 申请号: | 202080020942.X | 申请日: | 2020-03-09 |
| 公开(公告)号: | CN113711008A | 公开(公告)日: | 2021-11-26 |
| 发明(设计)人: | 菲利普·罗素;理查德·泽尔特纳;谢尚然;阿比纳夫·夏尔马 | 申请(专利权)人: | 马克思-普朗克科学促进协会 |
| 主分类号: | G01N15/02 | 分类号: | G01N15/02;G01N15/14;G01N15/00 |
| 代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人: | 徐民;孙磊 |
| 地址: | 德国慕尼*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 粒子 测试 装置 方法 | ||
1.粒子测试装置(100),所述粒子测试装置被配置用于研究流体介质中的粒子,所述粒子测试装置包括:
-波导器件(10),所述波导器件包括中空光学波导(11),所述中空光学波导具有输入端(12)和输出端(13),
-辐照器件(20),所述辐照器件包括激光源(21),所述激光源被布置用于在所述光学波导(11)的所述输入端(12)处光学地捕获至少一个粒子,并将所述粒子穿过所述光学波导(11)朝向其输出端(13)推进,以及
-测量器件(30),所述测量器件被布置用于感测所述光学波导(11)中的所述至少一个粒子,
其特征在于,
-所述测量器件(30)被布置用于测量所述光学波导(11)沿其纵向延伸的光学传输。
2.根据权利要求1所述的粒子测试装置,其进一步包括:
-分析器件(40),所述分析器件与所述测量器件(30)耦合并且被布置用于提供至少一个粒子特征,以及
-所述分析器件(40)适于基于所述光学传输提供所述至少一个粒子特征。
3.根据权利要求2所述的粒子测试装置,其中
-所述分析器件(40)适于提供粒子数、粒子大小、粒子质量和粒子折射率中的至少一个作为所述至少一个粒子特征,和/或
-所述分析器件(40)适于基于所测量的光学传输的粒子诱导变化来提供所述至少一个粒子特征。
4.根据权利要求3所述的粒子测试装置,其中
-所述分析器件(40)适于基于所测量的光学传输的所述粒子诱导变化来提供所述至少一个粒子特征,并且
-所述分析器件(40)适于分析所测量的光学传输的所述粒子诱导变化的持续时间、振幅和波形中的至少一个。
5.根据前述权利要求中的一项所述的粒子测试装置,其中
-所述激光源(21)被布置用于光学地捕获和推进所述至少一个粒子,并且作为所述测量器件(30)的光源,用于测量所述光学波导(11)的所述光学传输。
6.根据前述权利要求中的一项所述的粒子测试装置,其包括以下至少一个特征:
-所述辐照器件(20)进一步包括第一单模纤维(22)和第一梯度折射率透镜(23),所述第一单模纤维具有输入端和输出端,其中所述第一单模纤维(22)的所述输入端与所述激光源(21)的输出耦合,所述第一梯度折射率透镜布置在所述第一单模纤维(22)的所述输出端处,用于将激光聚焦到所述光学波导(11)的所述输入端,和
-所述测量器件(30)包括光电二极管(31)、第二单模纤维(32)和第二梯度折射率透镜(33),所述第二单模纤维具有输入端和输出端,其中所述第二单模纤维(32)的所述输出端与所述光电二极管(31)耦合,所述第二梯度折射率透镜布置在所述第二单模纤维(32)的所述输入端处,用于收集来自所述光学波导(11)的所述输出端的光。
7.根据前述权利要求中的一项所述的粒子测试装置,其中所述波导器件(10)进一步包括:
-外壳(50),所述外壳容纳所述光学波导(11)并且具有两个透明窗口(51),所述两个透明窗口被布置用于将来自所述激光源(21)的光耦合到所述外壳(50)中并且将通过所述光学波导(11)传输的光耦合到所述外壳(50)外,其中
-所述外壳(50)适于流通操作,其中供应段(52)被布置用于将含有粒子的样品供应到外壳(50)中,并且排出段(53)被布置用于将所述样品引导到所述外壳(50)外。
8.根据前述权利要求中的一项所述的粒子测试装置,其中
-所述光学波导(11)为空芯光子晶体纤维。
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