[实用新型]一种新型半导体器件用测试针及其组件有效
| 申请号： | 202023289063.3 | 申请日： | 2020-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN214794937U | 公开（公告）日： | 2021-11-19 |
| 发明（设计）人： | 闵哲 | 申请（专利权）人： | 苏州朗之睿电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R1/04;H01L21/66;G01R31/26 |
| 代理公司： | 苏州铭浩知识产权代理事务所(普通合伙) 32246 | 代理人： | 朱斌兵 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种新型半导体器件用测试针及其组件，其包括测试针本体，测试针本体的中部设置有定位孔；测试针本体的上侧设置有一个针尖支撑臂，针尖支撑臂的自由端设置有测试针尖，针尖支撑臂的根部与测试针本体固定连接；测试针本体的下侧设置有一个针脚支撑臂，针脚支撑臂与测试针本体呈夹角设置，针脚支撑臂的自由端处设置有测试针腿，针脚支撑臂的根部与测试针本体固定连接；针尖支撑臂和针脚支撑臂与测试针本体间隔设置。本实用新型的半导体器件用测试针具有与测试点接触良好，测试稳定的特点，能够提升良品率、生产效率，并降低成本；且适用寿命较长，能够满足大电流产品的测试要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 新型 半导体器件 测试 及其 组件 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州朗之睿电子科技有限公司，未经苏州朗之睿电子科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202023289063.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种滚筒线用皮带传动装置
- 下一篇：一种高寿命半导体器件用测试针及其组件
