[实用新型]一种光学元件平面度的测量工具

摘要

本实用新型属于光学元件技术领域，且公开了一种光学元件平面度的测量工具，包括底座，所述底座的顶部两端对称设置有支撑柱，且两个支撑柱之间连接有横梁，所述横梁上滑动连接有移动套，且移动套的底部连接有测量杆，所述底座的顶部开设有滑轨，且滑轨的内部滑动连接有滑轮，所述滑轮与支撑柱连接，所述底座顶部靠近两个支撑柱后方中间位置处固定有夹持机构；本实用新型设置了滑轮和滑轨，通过滑轮在滑轨中移动带动测量杆在光学元件上移动，避免将整个测量装置置于光学元件上移动，且通过滑轨对滑轮的限制，避免测量装置跌落，还设置了定位机构，通过弹簧带动定位板与底座抵触，实现对移动后的测量装置进行限位固定，方便使用。