[实用新型]一种光学元件平面度的测量工具有效

专利信息
申请号: 202023260162.9 申请日: 2020-12-30
公开(公告)号: CN213714192U 公开(公告)日: 2021-07-16
发明(设计)人: 张志平 申请(专利权)人: 泰州阿法光电科技有限公司
主分类号: G01B5/28 分类号: G01B5/28;G01B5/00
代理公司: 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 代理人: 李博茜
地址: 225300 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 光学 元件 平面 测量 工具
【权利要求书】:

1.一种光学元件平面度的测量工具,包括底座(1),所述底座(1)的顶部两端对称设置有支撑柱(2),且两个支撑柱(2)之间连接有横梁(3),所述横梁(3)上滑动连接有移动套(4),且移动套(4)的底部连接有测量杆(5),其特征在于:所述底座(1)的顶部开设有滑轨(6),且滑轨(6)的内部滑动连接有滑轮(7),所述滑轮(7)与支撑柱(2)连接,所述底座(1)顶部靠近两个支撑柱(2)后方中间位置处固定有夹持机构(8),且底座(1)上方靠近支撑柱(2)的一侧位置处设置有定位机构(11),所述支撑柱(2)的上端开设有空腔(9),且空腔(9)的内部设置有标杆(10),所述标杆(10)与横梁(3)连接。

2.根据权利要求1所述的一种光学元件平面度的测量工具,其特征在于:所述夹持机构(8)包括齿轮箱(81)、液压缸(82)、伸缩杆(83)、两个齿轮(84)、齿条(85)和夹块(86),所述液压缸(82)固定在齿轮箱(81)的外壁上,所述伸缩杆(83)、两个齿轮(84)、齿条(85)和夹块(86)均设置于齿轮箱(81)的内部,且两个齿轮(84)与齿轮箱(81)内部转动连接,所述齿条(85)位于两个齿轮(84)之间,且齿条(85)与两个齿轮(84)啮合,所述伸缩杆(83)的一端与齿条(85)铰接,另一端穿过齿轮箱(81)与液压缸(82)连接。

3.根据权利要求1所述的一种光学元件平面度的测量工具,其特征在于:所述定位机构(11)包括拉杆(1101)、横杆(1102)、转动杆(1103)、弹簧(1104)和定位板(1105),所述拉杆(1101)垂直穿过横杆(1102)与定位板(1105)连接,所述转动杆(1103)套设在拉杆(1101)上,且转动杆(1103)与拉杆(1101)转动连接,所述弹簧(1104)连接在横杆(1102)和定位板(1105)之间。

4.根据权利要求3所述的一种光学元件平面度的测量工具,其特征在于:所述横杆(1102)上开设有允许拉杆(1101)和转动杆(1103)通过的孔。

5.根据权利要求1所述的一种光学元件平面度的测量工具,其特征在于:所述标杆(10)上设置有刻度线。

6.根据权利要求1所述的一种光学元件平面度的测量工具,其特征在于:所述支撑柱(2)上设置有配合横梁(3)和标杆(10)上下移动的条形孔。

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