[实用新型]一种浮动式结构的测试座翻盖有效
| 申请号： | 202023185026.8 | 申请日： | 2020-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN214409064U | 公开（公告）日： | 2021-10-15 |
| 发明（设计）人： | 杨晓华;石光普;史先映 | 申请（专利权）人： | 苏州英世米半导体技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215000 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型提出了一种浮动式结构的测试座翻盖，主要包括：翻盖本体、下压部件，所述下压部件设置于翻盖本体的仿形孔内，且与翻盖本体之间活动连接，所述下压部件包括：固定板，固定设置于固定板一侧的下压板，固定设置于固定板另一侧的限位卡扣，所述限位卡扣内具有一活动空间，在所述活动空间内设置有第二连轴，所述第二连轴卡设于翻盖本体的第二轴孔内。通过上述方式，能够解决现有的测试座翻盖下压后出现不能压紧芯片和下压后高度过大的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 浮动 结构 测试 翻盖 | ||
【主权项】：
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