[实用新型]一种用于非接触场强的可视化调试系统有效

专利信息
申请号: 202022866936.6 申请日: 2020-12-03
公开(公告)号: CN213750104U 公开(公告)日: 2021-07-20
发明(设计)人: 冯强 申请(专利权)人: 艾体威尔电子技术(北京)有限公司
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 北京市盛峰律师事务所 11337 代理人: 于国强
地址: 100195 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开了一种用于非接触场强的可视化调试系统,可视化调试系统与支付终端相连;所述可视化调试系统包括MCU主控芯片和LED线圈感应阵列,所述支付终端包括非接触刷卡电路以及串联在非接触刷卡电路中的非接触刷卡芯片和非接触线圈,所述MCU主控芯片与所述非接触刷卡芯片相连,所述LED线圈感应阵列与所述非接触线圈相互感应。优点是:使用LED线圈感应阵列将电磁波能量可视化,便于准确的找到非接触区域的场强中心;将非接触刷卡电路中的问题可视化体现在LED线圈感应阵列上,使调试人员更加直观的获知调试方向,提升调试效率;使用LED线圈感应阵列代替银行卡进行调试,重复次数少,并能够准确定位非接触区域的场强中心,为后续工作提供便利。
搜索关键词: 一种 用于 接触 场强 可视化 调试 系统
【主权项】:
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