[实用新型]一种用于非接触场强的可视化调试系统

说明书

本实用新型公开了一种用于非接触场强的可视化调试系统，可视化调试系统与支付终端相连；所述可视化调试系统包括MCU主控芯片和LED线圈感应阵列，所述支付终端包括非接触刷卡电路以及串联在非接触刷卡电路中的非接触刷卡芯片和非接触线圈，所述MCU主控芯片与所述非接触刷卡芯片相连，所述LED线圈感应阵列与所述非接触线圈相互感应。优点是：使用LED线圈感应阵列将电磁波能量可视化，便于准确的找到非接触区域的场强中心；将非接触刷卡电路中的问题可视化体现在LED线圈感应阵列上，使调试人员更加直观的获知调试方向，提升调试效率；使用LED线圈感应阵列代替银行卡进行调试，重复次数少，并能够准确定位非接触区域的场强中心，为后续工作提供便利。

技术领域

本实用新型涉及NFC刷卡调试技术领域，尤其涉及一种用于非接触场强的可视化调试系统。

背景技术

随着电子支付行业的不断发展，人们对电子支付终端的安全性及使用体验提出了更高的需求，POS机等支付终端需要对其内部的非接触刷卡电路进行调试，以保证其达到最佳状态，在针对不同的卡进行信息读取时，都能够准确读取卡中信息；以调试非接触刷卡电路为例说明，具体调试流程如下，可参见图1，

1、拆开支付终端，对非接触刷卡电路引线做测试前的焊接准备工作；

2、连接网络分析仪，通过史密斯图看非接天线的匹配效果，不满足要求时需要调整电路中的电阻电容来对线圈进行匹配，以达到最佳天线匹配效果；最佳匹配效果可使天线性能发挥到最大，输出最佳的场强大小；

3、测试多张不同类的银行卡，在不同距离时的刷卡效果，具体测试范围。如图2所示，垂直测试0-4厘米，0cm包括中心点及水平距离1.5cm圆周上均分60°的6个点，1-4cm包括中心点及水平距离1.5cm和2.5cm两个圆周上各6个测试点，组成上图测试空间示意图。

4、调试完天线后，重复上述步骤，直到满足测试要求。

通过上述调试过程可以看出，使用网络分析仪和史密斯图进行调试，测试点以及测试卡片众多，如一张卡片没有通过测试，就需要重新调整匹配电路再重新测试所有的卡片以及点，拆机后根据测试数据摸索的调整非接天线位置及大小，测试过程非常繁琐，不仅浪费时间精力，效率低下；还会出现测试不准确的情况，浪费人力物力。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于非接触场强的可视化调试系统，从而解决现有技术中存在的前述问题。

为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案如下：

一种用于非接触场强的可视化调试系统，可视化调试系统与支付终端相连；所述可视化调试系统包括MCU主控芯片和LED线圈感应阵列，所述支付终端包括非接触刷卡电路以及串联在非接触刷卡电路中的非接触刷卡芯片和非接触线圈，所述MCU主控芯片与所述非接触刷卡芯片相连，所述LED线圈感应阵列与所述非接触线圈相互感应。

优选的，所述LED线圈感应阵列包括感应电路以及串联在感应电路中的闭合线圈和多个LED发光管；所述闭合线圈与所述非接触线圈相互感应。

本实用新型的有益效果是：1、使用LED线圈感应阵列将电磁波能量可视化，便于准确的找到非接触区域的场强中心；将非接触刷卡电路中的问题可视化体现在LED线圈感应阵列上，使调试人员更加直观的获知调试方向，提升调试效率。2、使用LED线圈感应阵列代替银行卡进行调试，重复次数少，并能够准确定位非接触区域的场强中心，为后续工作提供便利。

附图说明

图1是现有技术中的调试过程示意图；

图2是现有技术中调试的测试空间示意图；

图3是本实用新型实施例中可视化调试系统示意图；

图4是本实用新型实施例中的调试过程示意图。

具体实施方式