[实用新型]一种基于嵌入式的SMU四端口快速I-V测试系统有效

专利信息
申请号: 202022785251.9 申请日: 2020-11-27
公开(公告)号: CN214011351U 公开(公告)日: 2021-08-20
发明(设计)人: 赵先成 申请(专利权)人: 浙江力德仪器有限公司
主分类号: G01R19/25 分类号: G01R19/25
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 刘宇波
地址: 311300 浙江省杭州市临安区青山湖*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型涉及快速I‑V测试系统技术领域,且公开了一种基于嵌入式的SMU四端口快速I‑V测试系统,包括主控芯片模块,所述主控芯片模块底端固定安装有显示模块,该基于嵌入式的SMU四端口快速I‑V测试系统,通过发送指令使得SMU模块读取外部电压电流,使AWG模块输出快速脉冲,然后读取ADC返回数据,并将返还的数据进行实时处理,同时令电源模块输出相应的电压电流进行限流处理,使得数据传输具有高度的同步性,高精度:采用32bit高精度ADC读取数据,配合抗干扰能力提升的外围电路与信号处理,数据处理具有高精度,低时延的特性,抗干扰能力强:AWG模块采用抗干扰能力强的外围电路与软件去噪处理,并通过ADC差分读取电压,使得干扰噪声对数据影响大大减小。
搜索关键词: 一种 基于 嵌入式 smu 端口 快速 测试 系统
【主权项】:
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