[实用新型]一种基于嵌入式的SMU四端口快速I-V测试系统

说明书

本实用新型涉及快速I‑V测试系统技术领域，且公开了一种基于嵌入式的SMU四端口快速I‑V测试系统，包括主控芯片模块，所述主控芯片模块底端固定安装有显示模块，该基于嵌入式的SMU四端口快速I‑V测试系统，通过发送指令使得SMU模块读取外部电压电流，使AWG模块输出快速脉冲，然后读取ADC返回数据，并将返还的数据进行实时处理，同时令电源模块输出相应的电压电流进行限流处理，使得数据传输具有高度的同步性，高精度：采用32bit高精度ADC读取数据，配合抗干扰能力提升的外围电路与信号处理，数据处理具有高精度，低时延的特性，抗干扰能力强：AWG模块采用抗干扰能力强的外围电路与软件去噪处理，并通过ADC差分读取电压，使得干扰噪声对数据影响大大减小。

技术领域

本实用新型涉及快速I-V测试系统技术领域，具体为一种基于嵌入式的 SMU四端口快速I-V测试系统。

背景技术

快速I-V测试应用面广泛，传感器、材料和微电子领域均有涉及，传统快速I-V测试需要依赖大型半导体参数分析仪设备或者多台SMU设备配合使用，四端口快速I-V测试使用复杂并且配合程度较低，需要进行复杂的编程处理但实时性与精度都不高，输出脉冲容易受到外界干扰噪声的影响，无法满足测试要求，为了解决这一存在的I-V测试问题，我们产生了基于嵌入式的SMU四端口快速I-V测试系统的想法，我们的实行方案是用一种基于嵌入式的SMU四端口I-V测试系统，包括采用SMU模块、电源模块、AWG模块、ADC 模块、显示模块和主控芯片模块，使得能够更快、更高精度的实时处理数据，并且输出脉冲抗干扰能力强，完成外部电路I-V更准确的测试功能，也是本实用新型的重点，

基于上述考虑，故而我们提出了一种基于嵌入式的SMU四端口快速I-V 测试系统，其具有输出脉冲抗干扰能力强且外部电路I-V测试功能更准确的优点，来解决以上的问题。

实用新型内容

为实现上述输出脉冲抗干扰能力强且外部电路I-V测试功能更准确的目的，本实用新型提供如下技术方案：一种基于嵌入式的SMU四端口快速I-V 测试系统，包括主控芯片模块，所述主控芯片模块底端固定安装有显示模块，所述主控芯片模块底端固定安装有电源模块，所述主控芯片模块左右两侧均固定安装有SMU模块，所述主控芯片模块左侧固定安装有ADC模块，所述ADC 模块左侧固定安装有AWG模块。

作为优化，两个所述SMU模块顶部相对一侧均固定安装有DUT模块。

作为优化，所述主控芯片模块与SMU模块双向电连接，所述主控芯片模块与显示模块双向信号连接，所述主控芯片模块输入端与电源模块输出端电连接，所述主控芯片模块输出端与ADC模块输入端信号连接，所述主控芯片模块输出端与AWG模块输入端信号连接，所述ADC模块与AWG模块双向信号连接。

作为优化，所述主控芯片模块使用的是以STM32系列为芯片的MCU主控芯片模块。

作为优化，所述电源模块为具有可编程的直流电源。

作为优化，所述SMU模块为可编程的电流电压采集模块.

作为优化，所述ADC模块为32bit高精度ADC。

作为优化，所述显示模块为LCD高分辨率显示。

本实用新型的有益效果是：

该基于嵌入式的SMU四端口快速I-V测试系统，通过发送指令使得SMU 模块读取外部电压电流，使AWG模块输出快速脉冲，然后读取ADC返回数据，并将返还的数据进行实时处理，同时令电源模块输出相应的电压电流进行限流处理，使得数据传输具有高度的同步性，高精度：采用32bit高精度ADC 读取数据，配合抗干扰能力提升的外围电路与信号处理，数据处理具有高精度，低时延的特性，抗干扰能力强：AWG模块采用抗干扰能力强的外围电路与软件去噪处理，并通过ADC差分读取电压，使得干扰噪声对数据影响大大减小，进而达到了输出脉冲抗干扰能力强且外部电路I-V测试功能更准确的效果。

附图说明