[实用新型]一种数显卡尺细分误差检校装置

摘要

本实用新型公开了一种数显卡尺细分误差检校装置，包括基条架，所述基条架的顶面固定安装有校验标尺条，所述校验标尺条的表面喷印有刻度线，所述校验标尺条的顶面固定安装有检验支撑纵片架，所述检验支撑纵片架的一侧固定安装有支衬顶条，所述检验支撑纵片架的另一侧固定安装有支衬底条。通过设置第一磁吸块和第二磁吸块，即可使磁吸圈便于分别与第一磁吸块和第二磁吸块进行套吸，从而便于调节使护套，以使其罩套于校验标尺条和检验支撑纵片架外部，或套吸于基条架远离校验标尺条一侧，从而达到了便于取用和收存的效果，实现了便于携带的目标，便于对检校结构进行充分保护，应用起来更加安全。