[实用新型]一种数显卡尺细分误差检校装置有效
| 申请号： | 202022575468.7 | 申请日： | 2020-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN213238779U | 公开（公告）日： | 2021-05-18 |
| 发明（设计）人： | 罗柏林 | 申请（专利权）人： | 苏州捷瑞校准检测有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 苏州吴韵知识产权代理事务所(普通合伙) 32364 | 代理人： | 朱亮 |
| 地址： | 215101 江苏省苏州市吴中区木渎*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 种数 显卡 细分 误差 装置 | ||
1.一种数显卡尺细分误差检校装置，包括基条架(1)，其特征在于，所述基条架(1)的顶面固定安装有校验标尺条(2)，所述校验标尺条(2)的表面喷印有刻度线(3)，所述校验标尺条(2)的顶面固定安装有检验支撑纵片架(4)，所述检验支撑纵片架(4)的一侧固定安装有支衬顶条(5)，所述检验支撑纵片架(4)的另一侧固定安装有支衬底条(6)，所述校验标尺条(2)的两端均固定安装有第一磁吸块(7)和第一对位块(8)，所述第一对位块(8)固定安装在第一磁吸块(7)的顶部，所述基条架(1)的底面固定安装有第二磁吸块(9)，所述第二磁吸块(9)的底部固定安装有第二对位块(10)，所述校验标尺条(2)和第一磁吸块(7)的表面活动套接有磁吸圈(11)和护套(12)，且磁吸圈(11)固定安装在护套(12)套口端，所述护套(12)内壁的侧面粘接有衬垫棉(13)。
2.根据权利要求1所述的一种数显卡尺细分误差检校装置，其特征在于，所述护套(12)表面的正面和背面均粘接有手触防滑胶条(14)，所述手触防滑胶条(14)采用硅橡胶材质制成。
3.根据权利要求1所述的一种数显卡尺细分误差检校装置，其特征在于，所述基条架(1)的正面和背面均设有防滑触纹条(15)，且防滑触纹条(15)为横向设置的凸纹条结构。
4.根据权利要求1所述的一种数显卡尺细分误差检校装置，其特征在于，所述第一磁吸块(7)、第二磁吸块(9)和磁吸圈(11)均采用磁铁材质制成，且磁吸圈(11)与第一磁吸块(7)相吸附。
5.根据权利要求1所述的一种数显卡尺细分误差检校装置，其特征在于，所述衬垫棉(13)采用纳米海绵材质制成，且衬垫棉(13)的数量为两个。
6.根据权利要求1所述的一种数显卡尺细分误差检校装置，其特征在于，所述第一对位块(8)和第二对位块(10)的数量均为两个，且两个第一对位块(8)和两个第二对位块(10)的相背侧面均为圆弧面。
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