[实用新型]一种基于结构光的三维扫描检测平台有效
| 申请号： | 202022421422.X | 申请日： | 2020-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN213396973U | 公开（公告）日： | 2021-06-08 |
| 发明（设计）人： | 吴友仁 | 申请（专利权）人： | 元素光电智能科技（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25 |
| 代理公司： | 南京禾易知识产权代理有限公司 32320 | 代理人： | 宋萍 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市苏州工*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种基于结构光的三维扫描检测平台，涉及结构光的三维扫描检测领域，为解决现有的芯片在进行三维扫描检测时，往往是通过夹持翻转来对芯片进行扫描检测，扫面效率慢的问题。所述玻璃承托台下端外表面的中轴位置处固定安装有交流电机，所述交流电机的旋转轴后一端固定安装有固定连接座，所述固定连接座的侧表面上固定连接有固定连接杆，所述固定连接杆的一端固定连接在芯片拨动器的内壁上，所述芯片拨动器位于玻璃承托台的上端外表面上，所述芯片拨动器的外表面上设置有芯片盛放格，且芯片盛放格的两端均为开口状。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 结构 三维 扫描 检测 平台 | ||
【主权项】：
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