[实用新型]一种芯片测试压块衬套防呆设计结构

摘要

本实用新型公开一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，属于芯片测试技术领域，包括测试压块本体，所述测试压块本体的四角处皆开设有安装孔，所述测试压块本体的中间位置处开设有通槽，且通槽的内部设置有测试压头机构，所述测试压头机构的外侧设置有滑动机构。本实用新型测试压头机构外部矩形滑槽、滑杆、矩形压板、定位螺栓组成的滑动机构的设置，能够在使用的时，对测试压头机构的位置进行调整，方便对不同大小的芯片进行使用，实用性更高，定位滑孔外部纵向安装槽、横向安装槽、固定板、夹块、螺杆、双向内螺管组成的固定机构的设置，通过对双向内螺管的转动，能够控制两组弧形夹块相对运动，方便对衬套进行安装与固定，使用更加方便。