[实用新型]一种芯片测试压块衬套防呆设计结构

说明书

本实用新型公开一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，属于芯片测试技术领域，包括测试压块本体，所述测试压块本体的四角处皆开设有安装孔，所述测试压块本体的中间位置处开设有通槽，且通槽的内部设置有测试压头机构，所述测试压头机构的外侧设置有滑动机构。本实用新型测试压头机构外部矩形滑槽、滑杆、矩形压板、定位螺栓组成的滑动机构的设置，能够在使用的时，对测试压头机构的位置进行调整，方便对不同大小的芯片进行使用，实用性更高，定位滑孔外部纵向安装槽、横向安装槽、固定板、夹块、螺杆、双向内螺管组成的固定机构的设置，通过对双向内螺管的转动，能够控制两组弧形夹块相对运动，方便对衬套进行安装与固定，使用更加方便。

技术领域

本实用新型涉及一种防呆结构，特别是涉及一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，属于芯片测试技术领域。

背景技术

集成电路芯片是包括一硅基板、至少一电路、一固定封环、一接地环及至少一防护环的电子元件，而在芯片的生产制作完成之后需要对芯片进行测试，通过测试压块与芯片的引脚接触进行检测，为确保测试的精确需要进行防呆设计，防呆是一种预防矫正的行为约束手段，运用避免产生错误的限制方法，让操作者不需要花费注意力、也不需要经验与专业知识即可直觉无误完成正确的操作；

但现有的防呆结构测试压头机构位置固定，无法根据不同大小的芯片进行定位测试，实用性较低，且无法在压头初步接触时对引脚进行防护，同时对于衬套的更换较为不便，因此，本实用新型提出一种芯片测试压块衬套防呆设计结构以解决现有技术中存在的问题。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是为了提供一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，以解决现有技术中无法对不同大小的芯片进行定位测试的问题。

本实用新型的目的可以通过采用如下技术技术方案达到：

一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，包括测试压块本体，所述测试压块本体的四角处皆开设有安装孔，所述测试压块本体的中间位置处开设有通槽，且通槽的内部设置有测试压头机构，所述测试压头机构的外侧设置有滑动机构，所述通槽的一侧开设有矩形限位孔，且通槽的另一侧开设有圆形限位孔，所述测试压块本体两侧的中间位置处皆开设有定位滑孔，且定位滑孔的内部皆套设有衬套，所述测试压块本体上靠接定位滑孔的两侧皆设置有固定机构。

优选的：所述滑动机构包括矩形滑槽、滑杆和矩形压板，所述矩形滑槽开设在通槽的内侧，所述矩形滑槽的内侧皆滑动安装有滑杆，所述滑杆皆与测试压头机构固定连接，所述矩形滑槽的内部设置有矩形压板，所述测试压块本体的顶部均匀安装有定位螺栓，所述定位螺栓皆延伸至矩形滑槽的内部。

优选的：所述固定机构包括纵向安装槽、横向安装槽和固定板，所述横向安装槽开设在定位滑孔的两端，所述横向安装槽的一端与定位滑孔导通，且横向安装槽的另一端之间设置有纵向安装槽，所述横向安装槽的内部设置有固定板，且固定板靠近定位滑孔的一端皆安装有夹块，所述固定板远离夹块的一端皆固定有螺杆，两组所述螺杆之间螺纹安装有双向内螺管。

优选的：所述夹块的形状皆为弧形。

优选的：所述双向内螺管的外侧均匀开设有防滑纹。

优选的：所述测试压头机构包括固定块、限位槽和弹簧，所述固定块的内部开设有限位槽，且限位槽的内部设置有弹簧，所述弹簧的底端固定有压头。

本实用新型的有益效果为：

本实用新型提供的一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，测试压头机构外部矩形滑槽、滑杆、矩形压板、定位螺栓组成的滑动机构的设置，能够在使用的时，对测试压头机构的位置进行调整，方便对不同大小的芯片进行使用，实用性更高，定位滑孔外部纵向安装槽、横向安装槽、固定板、夹块、螺杆、双向内螺管组成的固定机构的设置，通过对双向内螺管的转动，能够控制两组弧形夹块相对运动，方便对衬套进行安装与固定，使用更加方便，通过固定块、限位槽、弹簧、压头组成的测试压头机构的设置，能够在压头初步接触引脚时进行缓冲，避免接触时压力过大导致引脚的损坏。