[实用新型]可延长使用寿命耐磨损的测试针有效
| 申请号： | 202022243488.4 | 申请日： | 2020-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN213210242U | 公开（公告）日： | 2021-05-14 |
| 发明（设计）人： | 刘耀元 | 申请（专利权）人： | 深圳市中硅电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 深圳市舜立知识产权代理事务所(普通合伙) 44335 | 代理人： | 侯艺 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种可延长使用寿命耐磨损的测试针，主要应用领域为电子产品ICT测试、功能测试、大功率测试针、PCB测试、半导体(IC)测试；应用方式包括以针床的方式对电子产品及半导体进行功能测试。本实用新型包括针体和针管，所述针体包括针头、针杆和针托，所述针管设置有弹簧，所述针托插接在该针管内，所述针管内径为1.1mm～1.2mm，所述针杆直径为0.80mm～0.88mm；所述针托形状包括圆柱状，该针托的底边与针托两侧边分别形成一个圆形角。本实用新型提供一种不易断裂，使用时间长久，耐磨损，导电性能良好的一种可延长使用寿命耐磨损的测试针。 | ||
| 搜索关键词： | 可延长 使用寿命 耐磨 测试 | ||
【主权项】：
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