[实用新型]可延长使用寿命耐磨损的测试针

说明书

本实用新型公开一种可延长使用寿命耐磨损的测试针，主要应用领域为电子产品ICT测试、功能测试、大功率测试针、PCB测试、半导体(IC)测试；应用方式包括以针床的方式对电子产品及半导体进行功能测试。本实用新型包括针体和针管，所述针体包括针头、针杆和针托，所述针管设置有弹簧，所述针托插接在该针管内，所述针管内径为1.1mm～1.2mm，所述针杆直径为0.80mm～0.88mm；所述针托形状包括圆柱状，该针托的底边与针托两侧边分别形成一个圆形角。本实用新型提供一种不易断裂，使用时间长久，耐磨损，导电性能良好的一种可延长使用寿命耐磨损的测试针。

技术领域

本实用新型涉及电子测试针技术领域，特别涉及一种可延长使用寿命耐磨损的测试针。

背景技术

测试针，业内也称为探针，该产品主要应用领域为电子产品ICT测试、功能测试、大功率测试针、PCB测试、半导体(IC)测试，应用方式包括以针床的方式对电子产品及半导体进行功能测试。

现有测试针，因针头总长度比较长，压缩行程过大，弹簧压缩比也过大，很容易导致弹簧断裂。

现有测试针没有防磨损设计，管内径与针杆直径的差值太小，针头在压缩过程中容易对针杆表面镀金层产生磨损，从而影响导电性能。差值越大，磨损越小；且针管内设计部分，不利于管内镀金层的保护，及导电性能的稳定。

中国专利申请号为：201621402564.9，申请日是:2016年12月20日，公开日是：2017年08月18日，专利名称为：一种测试针，该实用新型公开了一种测试针，用于解决现有技术的测试针中针轴与针管之间不可避免出现瞬间断开而造成瞬间断电的问题。本实用新型实施例包括：所述弹簧设置于所述针管内；所述针管包括测试开口端和底部开口端；所述针轴包括测试头部和尾端部；所述测试头部伸出所述测试开口端，所述尾端部套装在所述针管内；所述尾端部设置有金属杆，所述金属杆穿过所述弹簧，延伸至所述底部开口端。本实施例中的测试针，电流直接从针轴通过，并需要通过针管，从而完全避免了电流走针轴、针管而因针轴与针管瞬间断开而造成的瞬间断电的问题。

上述专利文献公开了一种测试针，但是该实用新型比较容易断裂，并且不可延长使用寿命耐磨损，导电性能不良。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提供一种不易断裂，使用时间长久，耐磨损，导电性能良好的一种可延长使用寿命耐磨损的测试针。

为实现上述实用新型目的，本实用新型提出一种可延长使用寿命耐磨损的测试针，包括针体和针管，所述针体包括针头、针杆和针托，所述针管设置有弹簧，所述针托插接在该针管内，所述针管内径为1.10mm～1.2mm，所述针杆直径为0.80mm～0.88mm；所述针托形状包括圆柱状，该针托的底边与针托两侧边分别形成一个圆形角。

所述针托底部设置有插入式尾针。

所述针管内径为1.15mm。

所述针杆直径为0.88mm。

所述针托的长度等于或小于3.8mm。

所述针杆的长度为7.5mm；所述针托长度为0.2mm～3.8mm。

所述针体长度为9.7mm～12.5mm；所述弹簧的自由长度为22mm～24.8mm。

所述插入式尾针的长度为0.3mm～1.0mm。

本实用新型提供技术方案的有益效果是:1)本实用新型通过缩短测试针针头的长度，增加弹簧长度，提高了测试针使用寿命；2)本实用新型增大测试针管内径，缩小针头针杆直径，针管内径与针杆直径的差值越大，磨损越小；3)本实用新型增加针托部分的圆形角，以减少对管内镀金层的磨损，针头尾端改为插入式(插入弹簧内孔)可以引导针头压缩时移动方向，不会磨损管内壁镀金层，同时提高针头与弹簧的接触性能。

附图说明