[实用新型]偏光片辉点缺陷光学检测结构有效
| 申请号： | 202022112828.X | 申请日： | 2020-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN212845084U | 公开（公告）日： | 2021-03-30 |
| 发明（设计）人： | 王郑;王岩松;和江镇;梁俊龙;任浩楠 | 申请（专利权）人： | 征图新视（江苏）科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/896 | 分类号： | G01N21/896 |
| 代理公司： | 常州品益专利代理事务所(普通合伙) 32401 | 代理人： | 王涵江 |
| 地址： | 213161 江苏省常州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种偏光片辉点缺陷光学检测结构，包括第一成像工位和第二成像工位，所述的第一成像工位与第二成像工位分别连接工控机；所述的第一成像工位上设置有偏光镜，检测时，偏光镜旋转，待检测的产品在第一成像工位测得真实缺陷和伪缺陷后在第二成像工位区分辨别伪缺陷从而测得真实缺陷。本实用新型利用偏光片滤光的特性，再结合其他工位的成像排除其他非真实缺陷的干扰，达到检测出偏光片内部的辉点的目的；使用自动化检测方案，可以提高检测效率，减少成本；将直交工位和同轴工位相结合有利于降低缺陷过检。 | ||
| 搜索关键词： | 偏光 点缺陷 光学 检测 结构 | ||
【主权项】：
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