[实用新型]偏光片辉点缺陷光学检测结构

说明书

本实用新型涉及一种偏光片辉点缺陷光学检测结构，包括第一成像工位和第二成像工位，所述的第一成像工位与第二成像工位分别连接工控机；所述的第一成像工位上设置有偏光镜，检测时，偏光镜旋转，待检测的产品在第一成像工位测得真实缺陷和伪缺陷后在第二成像工位区分辨别伪缺陷从而测得真实缺陷。本实用新型利用偏光片滤光的特性，再结合其他工位的成像排除其他非真实缺陷的干扰，达到检测出偏光片内部的辉点的目的；使用自动化检测方案，可以提高检测效率，减少成本；将直交工位和同轴工位相结合有利于降低缺陷过检。

技术领域

本实用新型涉及视觉检测领域，尤其是一种检测偏光片内部辉点缺陷的光学结构。

背景技术

对于偏光片的缺陷检测，传统的方法是使用人工检查，但是因为缺陷很细小，不易查找，要经过多到工序才能查找到缺陷，因此非常耗时，效率低下。

而目前的透过光学系统检查偏光片辉点缺陷时，单纯使用直交工位检查缺陷时，容易造成很高的过检。因为缺陷本身和非缺陷都可以在直交工位成像。单纯使用正透工位则是产品下表面的脏污和辉点缺陷都是黑的，且成像特征上也没有差别，无法将辉点缺陷和脏污区分。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是：提供一种偏光片辉点缺陷光学检测结构，能够有效排除产品表面的干扰，高效的检测出偏光片内部辉点。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种偏光片辉点缺陷光学检测结构，包括第一成像工位和第二成像工位，所述的第一成像工位与第二成像工位分别连接工控机；所述的第一成像工位上设置有偏光镜，检测时，偏光镜旋转，待检测的产品在第一成像工位测得真实缺陷和伪缺陷后在第二成像工位区分辨别伪缺陷从而测得真实缺陷。

进一步的说，本实用新型所述的第一成像工位为直交工位，包括第一相机和第一光源；所述的第二成像工位为同轴工位，包括第二相机和第二光源；待检测的产品由传输机构进行输送并位于第一相机和第二相机的下方，第一相机与第二相机分别连接工控机；所述的第一光源设置于待检测的产品的下方，所述的第二光源设置于待检测的产品的上方；所述的偏光镜设置于第一相机与待检测的产品之间、第一相机的镜头的正下方。

再进一步的说，本实用新型检测时，所述的偏光镜的旋转角度为0～90°，偏光镜旋转至90°时，待检测产品在第一成像工位的成像灰度最小。

本实用新型的有益效果是，解决了背景技术中存在的缺陷，

利用偏光片滤光的特性，再结合其他工位的成像排除其他非真实缺陷的干扰，达到检测出偏光片内部的辉点的目的；使用自动化检测方案，可以提高检测效率，减少成本；将直交工位和同轴工位相结合有利于降低缺陷过检。

附图说明

图1是本实用新型的优选实施例的结构示意图；

图中：1、第一相机；2、第二相机；3、偏光镜；4、传输机构；5、第一光源；6、第二光源；7、产品；8、工控机。

具体实施方式

现在结合附图和优选实施例对本实用新型作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本实用新型的基本结构，因此其仅显示与本实用新型有关的构成。

一种偏光片辉点缺陷光学检测结构，包括两个工位：第一成像工位，即，直交工位；和，第二成像工位，即，同轴工位。

直交工位，包括第一相机1和第一光源5；偏光镜3设置于第一相机1与待检测的产品7之间、第一相机1的镜头的正下方。

旋转偏光镜会产生成像效果由亮到暗再到亮的一个过程，当在最暗的时候就是直交状态，在最暗的状态下进行采图。

同轴工位，包括第二相机2和第二光源6；同轴工位没有设置偏光镜3。使用同轴光源的成像系统即为同轴工位。