[实用新型]一种压力测试探针老化设备有效

专利信息
申请号: 202021762303.4 申请日: 2020-08-21
公开(公告)号: CN212808591U 公开(公告)日: 2021-03-26
发明(设计)人: 李涛;王华伟 申请(专利权)人: 浙江邦睿达科技有限公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00;G01N19/00
代理公司: 北京中政联科专利代理事务所(普通合伙) 11489 代理人: 燕宏伟;章洪
地址: 314100 浙江省嘉*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 一种压力测试探针老化设备,包括测试台,以及电控箱。所述测试台包括工作台,固定支架,探针固定组件,以及测试机构。所述测试机构包括伺服升降装置,压测头组件,以及测高仪。所述伺服升降装置包括伺服驱动装置,滑动板,以及安装支架。所述压测头组件固定连接在所述安装支架上。所述压测头组件包括压测头主体,高度检测板,以及压力传感器。所述测高仪沿所述伺服升降装置的移动方向延伸,所述测高仪穿过所述高度检测板。所述压测头主体的中心轴穿过所述探针固定组件,以便于以对所述探针固定组件上的所述探针材料进行检测。该压力测试探针老化设备压力值可控,测试效果准确,提升了检测精度。
搜索关键词: 一种 压力 测试 探针 老化 设备
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