[实用新型]一种压力测试探针老化设备

说明书

一种压力测试探针老化设备，包括测试台，以及电控箱。所述测试台包括工作台，固定支架，探针固定组件，以及测试机构。所述测试机构包括伺服升降装置，压测头组件，以及测高仪。所述伺服升降装置包括伺服驱动装置，滑动板，以及安装支架。所述压测头组件固定连接在所述安装支架上。所述压测头组件包括压测头主体，高度检测板，以及压力传感器。所述测高仪沿所述伺服升降装置的移动方向延伸，所述测高仪穿过所述高度检测板。所述压测头主体的中心轴穿过所述探针固定组件，以便于以对所述探针固定组件上的所述探针材料进行检测。该压力测试探针老化设备压力值可控，测试效果准确，提升了检测精度。

技术领域

本实用新型属于检测设备技术领域，特别是一种压力测试探针老化设备。

背景技术

目前芯片测试领域，连接芯片与测试电路板之间的连接器，会大量运用到探针材料。探针在测试中起到重要的作用，探针的老化次数是衡量其质量的关键因素。

目前对探针在测试过程中，最常用的方式是运用凸轮机构往复运动对探针进行老化。此种方案，老化次数达到一定量时，凸轮易磨损，导致按压行程变化，严重会导致压坏探针。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型提供了一种测试效果准确的压力测试探针老化设备，以满足工业需求。

一种压力测试探针老化设备，包括一个测试台，以及一个设置在所述测试台一侧的电控箱。所述测试台包括一个工作台，一个设置在所述工作台上的固定支架，一个固定连接在所述工作台上且容置待测试的探针材料的探针固定组件，以及一个设置在所述固定支架上的测试机构。所述测试机构包括一个固定连接在所述固定支架上的伺服升降装置，一个设置在所述伺服升降装置上的压测头组件，以及一个固定连接在所述固定支架的测高仪。所述伺服升降装置包括一个固定连接在所述固定支架上的伺服驱动装置，一个设置在所述伺服驱动装置上的滑动板，以及一个设置在所述滑动板上的安装支架。所述压测头组件固定连接在所述安装支架上。所述压测头组件包括一个压测头主体，一个设置在所述压测头主体上的高度检测板，以及一个设置压测头主体上的压力传感器。所述测高仪沿所述伺服升降装置的移动方向延伸，所述测高仪穿过所述高度检测板。所述压测头主体的中心轴穿过所述探针固定组件，以便于以对所述探针固定组件上的所述探针材料进行检测。

进一步地，所述电控箱包括一个外壳，一个设置在所述外壳内的电源，以及设置在所述外壳内的控制单元，以及一个设置在所述外壳上的触控屏。

进一步地，所述控制单元依次包括一个电机驱动器，一个压力变送器，一个控制器，以及一个空气断路器。

进一步地，所述电机驱动器连接所述伺服升降装置，所述压力变送器连接所述压测头组件，所述控制器连接所述电机驱动器以及所述压力变送器。

进一步地，所述高度检测板包括一个固定连接在所述压测头主体上的连接板，以及一个设置在所述连接板上的高度检测板主体。

进一步地，所述高度检测板主体与所述连接板相互垂直，所述测高仪沿所述伺服升降装置的移动方向延伸，所述测高仪穿过所述高度检测板主体。

进一步地，所述伺服驱动装置为伺服丝杆升降机。