[实用新型]一种激光芯片光电性能检测装置有效
申请号: | 202021013413.0 | 申请日: | 2020-06-05 |
公开(公告)号: | CN212082781U | 公开(公告)日: | 2020-12-04 |
发明(设计)人: | 赵亮;涂洪森;王志刚;刘才勇 | 申请(专利权)人: | 哈工大机器人南昌智能制造研究院 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G01R31/28 |
代理公司: | 苏州金项专利代理事务所(普通合伙) 32456 | 代理人: | 金星 |
地址: | 330000 江西省南昌市小蓝*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种激光芯片光电性能检测装置,包括设有第一安装座的底板,第一安装座上滑动安装有第一动力装置驱动的滑座,滑座上设有检测台;底板上还滑动安装有光强检测机构,光强检测机构的滑动方向与滑座的滑动方向垂直设置;位于滑座和光强检测机构之间的底板设有水平发散角检测机构,水平发散角检测机构的检测端设有第一光电传感器、并绕竖直轴心线进行摆动检测,位于第一安装座一端的底板设有竖直发散角检测机构,竖直发散角检测机构的检测端设有第二光电传感器、并绕水平轴心线进行摆动检测。实现了在同一台设备上完成光强、水平和竖直发散角的检测,无需多次定位和移动,简化了检测流程,减少了检测时间,提高了检测效率和检测精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 激光 芯片 光电 性能 检测 装置 | ||
【主权项】:
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