[实用新型]一种晶圆片打点器有效
| 申请号: | 202020901259.4 | 申请日: | 2020-05-25 |
| 公开(公告)号: | CN212010910U | 公开(公告)日: | 2020-11-24 |
| 发明(设计)人: | 黄栋材 | 申请(专利权)人: | 无锡畅景科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 214000 江苏省无锡市新*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | 本实用新型属于晶圆检测技术领域,涉及一种晶圆片打点器,包括检测仪、工作台和打点器,所述工作台中间部分设有一个可供打点器放置的矩形槽,所述矩形槽的一侧呈半圆状,所述检测仪设置在工作台顶部,所述检测仪的传感探头中心轴线垂直于矩形槽上半圆状的中心点,所述打点器设置在工作台上设有的矩形槽内,以解决现有技术中不断碰撞会使限位柱与驱动器会发生损伤,导致使用寿命降低,需要经常更换或者维修,会导致在作业过程中可能会发生故障,影响工作效率的情况。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 晶圆片 打点 | ||
【主权项】:
暂无信息
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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