[实用新型]一种多功能集成电路芯片测试机有效
| 申请号： | 202020585237.1 | 申请日： | 2020-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN212341374U | 公开（公告）日： | 2021-01-12 |
| 发明（设计）人： | 黄辉 | 申请（专利权）人： | 深圳市芯片测试技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种多功能集成电路芯片测试机，包括主支架、传送机构、测试机构、标记机构、治具以及CCD相机，所述传送机构用于将载有集成电路芯片的治具移动到测试工位，所述测试机构在测试工位对集成电路芯片进行检测，所述CCD相机用于识别所述治具的具体位置，所述标记机构包括驱动组件和激光打码装置，当检测到有不合格产品时，驱动组件根据CCD相机反馈的位置信息带动激光打码装置移动到相应位置，在所述治具的相应位置上的打标板上进行打码标记，方便对装载工位上的芯片进行分拣，避免分拣混乱。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 多功能 集成电路 芯片 测试 | ||
【主权项】：
暂无信息
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