[实用新型]一种芯片测试流水线有效
| 申请号： | 202020584392.1 | 申请日： | 2020-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN212328972U | 公开（公告）日： | 2021-01-12 |
| 发明（设计）人： | 黄辉 | 申请（专利权）人： | 深圳市芯片测试技术有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/34 | 分类号： | B07C5/34;B07C5/36;B07C5/38;B07C5/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种芯片测试流水线，包括工作平台，所述工作平台上设置有传送机构和驱动机构，所述驱动机构用于抓取传送机构传送的用于承载芯片的测试治具，所述传送机构两侧设置有良品下料机构和不良品下料机构，所述工作平台上设置有两个下料孔，所述良品下料机构和所述不良品下料机构分别设置在两个所述下料孔的下方，当测试为良品时，所述驱动机构能够将测试治具通过其中一个下料孔放置在所述良品下料机构上，通过所述良品下料机构对产品进行下料，当测试为不良品时，所述驱动机构能够将测试治具通过另一个下料孔放置在不良品下料机构上，对不良品进行下料。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 流水线 | ||
【主权项】：
暂无信息
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