[实用新型]一种芯片测试流水线

说明书

本实用新型公开了一种芯片测试流水线，包括工作平台，所述工作平台上设置有传送机构和驱动机构，所述驱动机构用于抓取传送机构传送的用于承载芯片的测试治具，所述传送机构两侧设置有良品下料机构和不良品下料机构，所述工作平台上设置有两个下料孔，所述良品下料机构和所述不良品下料机构分别设置在两个所述下料孔的下方，当测试为良品时，所述驱动机构能够将测试治具通过其中一个下料孔放置在所述良品下料机构上，通过所述良品下料机构对产品进行下料，当测试为不良品时，所述驱动机构能够将测试治具通过另一个下料孔放置在不良品下料机构上，对不良品进行下料。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试设备领域，尤其涉及一种芯片测试流水线。

背景技术

随着科技的进步以及智能化的快速推广，芯片已经成为现代工业中必不可少的高科技产品。芯片在加工完成后或者出厂之前一般需要进行检测，以测试芯片是否和使用要求。目前的芯片测试设备一般在对芯片测试完成后，需要人工根据芯片的良品或者不良品进行分拣，自动化程度较低，工作效率不高。

实用新型内容

鉴于此，本实用新型公开了一种芯片测试流水线，能够根据检测结果对装载有芯片的测试治具进行分别传送。

本实用新型公开了一种芯片测试流水线，包括工作平台，所述工作平台上设置有传送机构和驱动机构，所述驱动机构设置在所述传送机构传送末端的上方，所述工作平台的两侧分别设置有良品下料机构和不良品下料机构，所述工作平台的两侧分别设置有下料孔，所述良品下料机构和所述不良品下料机构分别设置在两个所述下料孔的下方，所述驱动机构能够将所述传送机构上的装载有芯片的测试治具通过其中一个所述下料孔放置在所述良品下料机构上，或者通过另一个所述下料孔放置在所述不良品下料机构上。

进一步的，所述传送机构包括若干个传送辊，若干个所述传送辊沿阵列依次可转动的设置在所述工作平台上。

进一步的，所述传送机构的传送末端设置有挡位板，所述挡位板与所述工作平台固定连接，用于阻止装载有芯片的所述测试治具继续沿原方向移动。

进一步的，所述工作平台上固定连接有定位机构，所述定位机构包括第一双向夹紧气缸，所述第一双向夹紧气缸通过固定架设置在所述工作平台的下方，所述第一双向夹紧气缸的两端的输出轴上分别连接有第一夹板，所述第一夹板的顶端通过条形孔穿过所述工作平台，所述第一双向夹紧气缸可带动两个所述第一夹板沿所述条形孔移动，两个所述第一夹板位于所述驱动机构的正下方。

进一步的，所述驱动机构包括驱动电机、丝杆、横向滑台、第一升降气缸以及第二双向夹紧气缸，所述驱动电机通过支架固定在所述工作平台的上方，并通过所述丝杆带动所述横向滑台沿X轴方向移动，所述横向滑台可带动所述第一升降气缸沿Y轴方向移动，所述第一升降气缸的输出轴与所述第二双向夹紧气缸固定连接，并可带动所述第二双向夹紧气缸沿Z轴方向移动，所述第二双向夹紧旗杆的两端输出轴上分别设置有第二夹板，并且通过所述第二夹板对测试治具进行夹持。

进一步的，所述良品下料机构和所述不良品下料机构均包括支撑板以及第二升降气缸，所述第二升降气缸通过导轨与所述支撑板连接，并可沿所述导轨滑动，所述第二升降气缸的输出轴设置有放置板，所述第二升降气缸可带动所述放置板在竖直方向移动，并可带动所述放置板移动到所述下料孔处。

进一步的，所述放置板的上表面设置有第一定位块，所述测试治具的下表面设置有与所述第一定位块相对应的定位孔，所述测试治具的上表面设置有与所述定位孔相对应的第二定位块。

本实用新型公开的技术方案，与现有技术相比，有益效果是：

当对测试治具上的芯片测试完成后，所述驱动机构能够根据检测结果分别对测试治具进行分拣，当测试为良品时，所述驱动机构能够将测试治具通过其中一个下料孔放置在所述良品下料机构上，通过所述良品下料机构对产品进行下料，当测试为不良品时，所述驱动机构能够将测试治具通过另一个下料孔放置在不良品下料机构上，对不良品进行下料。