[实用新型]一种辐射制冷薄膜制冷性能测试装置有效
申请号: | 202020288490.0 | 申请日: | 2020-03-10 |
公开(公告)号: | CN212845134U | 公开(公告)日: | 2021-03-30 |
发明(设计)人: | 陈剑洪;陈余良;杨美玉;庄子哲;刘跃军;钟海长;郑伟 | 申请(专利权)人: | 厦门理工学院 |
主分类号: | G01N25/20 | 分类号: | G01N25/20 |
代理公司: | 泉州劲翔专利事务所(普通合伙) 35216 | 代理人: | 许珠珍 |
地址: | 361000 福*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本发明涉及辐射制冷技术领域,尤其是涉及的是一种辐射制冷薄膜制冷性能测试装置,包括金属罐体、设置在金属罐体一侧的盖体、设置在盖体外的测温装置,所述盖体上设置有口径与测温装置热电偶感温端口径相匹配的开口,所述开口处向金属罐体内延伸设置有导管,所述测温装置的热电偶感温端从开口穿入沿导管伸入至金属罐体内,所述金属罐体的顶部经抛光处理呈优弧面,所述金属罐体的底部为平面。本发明结构简单,构造巧妙,制作成本低,密封性良好,可以在镀膜之前对薄膜的辐射制冷性能进行快速评估测试,降低测试成本,提高测试准确性。 | ||
搜索关键词: | 一种 辐射 制冷 薄膜 性能 测试 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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