[实用新型]一种辐射制冷薄膜制冷性能测试装置有效

专利信息
申请号: 202020288490.0 申请日: 2020-03-10
公开(公告)号: CN212845134U 公开(公告)日: 2021-03-30
发明(设计)人: 陈剑洪;陈余良;杨美玉;庄子哲;刘跃军;钟海长;郑伟 申请(专利权)人: 厦门理工学院
主分类号: G01N25/20 分类号: G01N25/20
代理公司: 泉州劲翔专利事务所(普通合伙) 35216 代理人: 许珠珍
地址: 361000 福*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 辐射 制冷 薄膜 性能 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种辐射制冷薄膜制冷性能测试装置,其特征在于:包括金属罐体、设置在金属罐体一侧的盖体、设置在盖体外的测温装置,所述盖体上设置有口径与测温装置热电偶感温端口径相匹配的开口,所述开口处向金属罐体内延伸设置有导管,所述测温装置的热电偶感温端从开口穿入沿导管伸入至金属罐体内,所述金属罐体的顶部经抛光处理呈优弧面,所述金属罐体的底部为平面。

2.根据权利要求1所述的一种辐射制冷薄膜制冷性能测试装置,其特征在于:所述盖体包括盖面、与盖面固定连接的延伸部,所述延伸部上设置有环形凹槽,所述环形凹槽内设置有密封环。

3.根据权利要求1所述的一种辐射制冷薄膜制冷性能测试装置,其特征在于:所述导管与盖体连为一体。

4.根据权利要求1所述的一种辐射制冷薄膜制冷性能测试装置,其特征在于:所述金属罐体、盖体和导管均由钢合金材质制成。

5.根据权利要求1所述的一种辐射制冷薄膜制冷性能测试装置,其特征在于:所述盖体上设置有把手。

6.根据权利要求1所述的一种辐射制冷薄膜制冷性能测试装置,其特征在于:所述金属罐体的厚度为0.1~0.4mm。

7.根据权利要求1所述的一种辐射制冷薄膜制冷性能测试装置,其特征在于:所述金属罐体的底部从前到后依次设置有第一凹槽、第二凹槽、第三凹槽、第四凹槽。

8.根据权利要求1所述的一种辐射制冷薄膜制冷性能测试装置,其特征在于:所述盖体的厚度为0.1~0.5mm。

9.根据权利要求1所述的一种辐射制冷薄膜制冷性能测试装置,其特征在于:所述金属罐体的侧面、盖体外表面均贴附有银膜。

10.根据权利要求1所述的一种辐射制冷薄膜制冷性能测试装置,其特征在于:所述开口位于盖体的中部与顶部之间。

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