[实用新型]多用元器件电性能参数测试治具有效
| 申请号： | 202020087034.X | 申请日： | 2020-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN211785666U | 公开（公告）日： | 2020-10-27 |
| 发明（设计）人： | 李俊 | 申请（专利权）人： | 深圳市三合微科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳科湾知识产权代理事务所(普通合伙) 44585 | 代理人： | 钟斌 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及测试技术领域，且公开了多用元器件电性能参数测试治具，包括PCB板，所述PCB板前侧的中部栓接有测试台，所述测试台前侧的顶部和底部分别开设有第一凹槽和第二凹槽，所述第一凹槽位于第二凹槽的顶部，所述第一凹槽的内部栓接有测试金属上脚，所述第二凹槽的内部栓接有测试金属下脚；本实用新型通过PCB板、测试台、第一凹槽、第二凹槽、测试金属上脚、测试金属下脚、测试金属杆和检测件的设置，使得该测试治具可以实现不同功能元器件的共用测试，有效节省测试成本，提升测试效率，解决了现有SOT23‑6产品的测试治具，都只满足单一类别产品的测试，仅能对本产品使用，不能用于其它类别产品的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 多用 元器件 性能参数 测试 | ||
【主权项】：
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